Wszystkie produkty
-
Spektrofotometr 3nh
-
Spektrofotometr barwny
-
Spektrofotometr do pomiaru koloru
-
Ręczny kolorowy spektrofotometr
-
Szafka do oceny koloru Light Box
-
Miernik zamglenia
-
Cyfrowy miernik połysku
-
Multi Angle Gloss Meter
-
Kolorymetr 3nh
-
Miernik różnicy kolorów
-
Maszyna do dopasowywania kolorów
-
Oprogramowanie do dopasowywania kolorów
-
Tabela testów rozdzielczości
-
Karta kolorów
-
Karty kolorów farb
-
Światło świetlówki
-
Akcesoria do spektrofotometru
-
Eider GranadaProdukt i usługa była doskonała. dotarł do Kolumbii bez wielu problemów (tylko problemy z aduaną) .. dostawca w 100% polecony -
Josiah HallWszystko zostało dostarczone w idealnym stanie. Po montażu potwierdziłem operację. Dziękujemy za ten produkt.
-
Mihai PaunescuWszystko poszło zgodnie z oczekiwaniami, a produkt dotarł w dobrym stanie. 3NH jest dobrym dostawcą i na pewno będę z nich korzystać w przyszłości.
Osoba kontaktowa :
Melorae
Numer telefonu :
13925280965
Whatsapp :
+8613925280965
słowa kluczowe [ gloss level meter ] mecz 160 produkty.
Cyfrowy spektrofotometr MO M1 M2 M3 Condistion Gęstość koloru YD5010 Ze statusem ISO Pomiar gęstości TEAI
| Geometria optyczna: | 45/0 (45 podświetlenie w kształcie pierścienia, widok pionowy) |
|---|---|
| Źródło światła: | Połączone światło LED, światło UV |
| Inny indeks kolorymetryczny: | WI (ASTM E313, CIE / ISO, AATCC, Hunter), YI (ASTM D1925, ASTM 313), TI (ASTM E313, CIE / ISO), wska |
Przenośny spektrofotometr do pomiaru koloru YD5010 3nh 45/0 8 mm / 4 mm Przysłony
| Geometria optyczna: | 45/0 (45 podświetlenie w kształcie pierścienia, widok pionowy) |
|---|---|
| Źródło światła: | Połączone światło LED, światło UV |
| Inny indeks kolorymetryczny: | WI (ASTM E313, CIE / ISO, AATCC, Hunter), YI (ASTM D1925, ASTM 313), TI (ASTM E313, CIE / ISO), wska |
YD5010 Rusztowy spektrofotometr z densytometrem o wartości 45/0 w celu zastąpienia dokładnego standardu Xrite
| Geometria optyczna: | 45/0 (45 podświetlenie w kształcie pierścienia, widok pionowy) |
|---|---|
| Źródło światła: | Połączone światło LED, światło UV |
| Inny indeks kolorymetryczny: | WI (ASTM E313, CIE / ISO, AATCC, Hunter), YI (ASTM D1925, ASTM 313), TI (ASTM E313, CIE / ISO), wska |
CMYK LAB Wartość Densytometr kolorów YD5010 Do gęstości optycznej / powiększania punktów
| Geometria optyczna: | 45/0 (45 podświetlenie w kształcie pierścienia, widok pionowy) |
|---|---|
| Źródło światła: | Połączone światło LED, światło UV |
| Inny indeks kolorymetryczny: | WI (ASTM E313, CIE / ISO, AATCC, Hunter), YI (ASTM D1925, ASTM 313), TI (ASTM E313, CIE / ISO), wska |
Spektrofotometr o gęstości optycznej 3nh CMYK LAB Wartość Densytometr kolorów YD5010 Z oprogramowaniem
| Geometria pomiarowa: | 45/0 |
|---|---|
| Spektralne urządzenie separujące: | Kratka wklęsła |
| Detektor: | 256 elementów obrazu Matryca CMOS z podwójną matrycą |
Warning: preg_replace_callback(): Requires argument 2, 'cleanGoogleLink', to be a valid callback in /data/www/libs/myt/tran/google4vps.php on line 263 Spektrofotometr laboratoryjny CMYK Density Hunter YD5010 CIE 45/0 Kratka wklęsła
| Geometria pomiarowa: | 45/0 |
|---|---|
| Spektralne urządzenie do separacji: | Kratka wklęsła |
| Detektor: | 256 elementów obrazu Matryca CMOS z podwójną matrycą |
YD5010 Spektrometr kratowy Spektrofotometr ISO 13655 Standard dla współczynnika odbicia CMYK LAB
| Measurement Geometry: | 45/0 |
|---|---|
| Spectral separation device: | Concave Grating |
| Detector: | 256 Image Element Double Array CMOS Image Sensor |
Spektrofotometr kratowy 45/0 3nh 400-700nm Długość fali równa dokładnemu densytometrowi
| Geometria pomiarowa: | 45/0 |
|---|---|
| Spektralne urządzenie do separacji: | Kratka wklęsła |
| Detektor: | 256 elementów obrazu Matryca CMOS z podwójną matrycą |
Wartość OD Spektrofotometr CIE LAB 3nh Densytometr CMYK dla przemysłu poligraficznego
| Geometria pomiarowa: | 45/0 |
|---|---|
| Spektralne urządzenie do separacji: | Kratka wklęsła |
| Detektor: | 256 elementów obrazu Matryca CMOS z podwójną matrycą |
Cyfrowa kolorowa drukarka Cmyk, spektrofotometr różnicowy kolorów CIE Lab 3nh YD5050
| Geometria pomiarowa: | 45/0 |
|---|---|
| Spektralne urządzenie do separacji: | Kratka wklęsła |
| Detektor: | 256 elementów obrazu Matryca CMOS z podwójną matrycą |