Wszystkie produkty
-
Spektrofotometr 3nh
-
Spektrofotometr barwny
-
Spektrofotometr do pomiaru koloru
-
Ręczny kolorowy spektrofotometr
-
Szafka do oceny koloru Light Box
-
Miernik zamglenia
-
Cyfrowy miernik połysku
-
Multi Angle Gloss Meter
-
Kolorymetr 3nh
-
Miernik różnicy kolorów
-
Maszyna do dopasowywania kolorów
-
Oprogramowanie do dopasowywania kolorów
-
Tabela testów rozdzielczości
-
Karta kolorów
-
Karty kolorów farb
-
Światło świetlówki
-
Akcesoria do spektrofotometru
-
Eider GranadaProdukt i usługa była doskonała. dotarł do Kolumbii bez wielu problemów (tylko problemy z aduaną) .. dostawca w 100% polecony -
Josiah HallWszystko zostało dostarczone w idealnym stanie. Po montażu potwierdziłem operację. Dziękujemy za ten produkt.
-
Mihai PaunescuWszystko poszło zgodnie z oczekiwaniami, a produkt dotarł w dobrym stanie. 3NH jest dobrym dostawcą i na pewno będę z nich korzystać w przyszłości.
słowa kluczowe [ integrating sphere spectrophotometer ] mecz 802 produkty.
Spektrofotometr do pomiaru barwy CE 3nh YD5010 Do pomiaru nieprzezroczystości CIE Lab Delta E CMYK
| Geometria optyczna: | 45/0 (45 podświetlenie w kształcie pierścienia, widok pionowy) |
|---|---|
| Źródło światła: | Połączone światło LED, światło UV |
| Inny indeks kolorymetryczny: | WI (ASTM E313, CIE / ISO, AATCC, Hunter), YI (ASTM D1925, ASTM 313), TI (ASTM E313, CIE / ISO), wska |
45 Podświetlany spektrofotometr wielokątowy w kształcie pierścienia Wyświetlanie w pionie dla zadrukowanego papieru Y
| Geometria optyczna: | 45/0 (45 podświetlenie w kształcie pierścienia, widok pionowy) |
|---|---|
| Źródło światła: | Połączone światło LED, światło UV |
| Inny indeks kolorymetryczny: | WI (ASTM E313, CIE / ISO, AATCC, Hunter), YI (ASTM D1925, ASTM 313), TI (ASTM E313, CIE / ISO), wska |
Spektrofotometr do pomiaru koloru CIE LAB Delta E Gęstość CMYK YD5050 8 / 4mm Przysłony
| Geometria optyczna: | 45/0 (45 podświetlenie w kształcie pierścienia, widok pionowy) |
|---|---|
| Źródło światła: | Połączone światło LED, światło UV |
| Inny indeks kolorymetryczny: | WI (ASTM E313, CIE / ISO, AATCC, Hunter), YI (ASTM D1925, ASTM 313), TI (ASTM E313, CIE / ISO), wska |
Trwały spektrofotometr do pomiaru koloru 45/0 3nh YD5010 8 / 4mm Przysłony
| Geometria optyczna: | 45/0 (45 podświetlenie w kształcie pierścienia, widok pionowy) |
|---|---|
| Źródło światła: | Połączone światło LED, światło UV |
| Inny indeks kolorymetryczny: | WI (ASTM E313, CIE / ISO, AATCC, Hunter), YI (ASTM D1925, ASTM 313), TI (ASTM E313, CIE / ISO), wska |
VIDEO
Xrite SP60 zastąpiony przenośnym spektrofotometrem 3nh YS3010 z aperturą 8 mm d / 8
| Geometria optyczna: | d / 8 ° |
|---|---|
| SCE / SCI: | SCE i SCI |
| Inny indeks kolorymetryczny: | WI (ASTM E313, CIE / ISO, AATCC, Hunter), YI (ASTM D1925, ASTM 313), TI (ASTM E313, CIE / ISO), wska |
Spektrofotometr do pomiaru koloru struktury optycznej D / 8 3nh YS3010 z lokalizacją kamery
| Geometria optyczna: | d / 8 ° |
|---|---|
| SCE / SCI: | SCE i SCI |
| Inny indeks kolorymetryczny: | WI (ASTM E313, CIE / ISO, AATCC, Hunter), YI (ASTM D1925, ASTM 313), TI (ASTM E313, CIE / ISO), wska |
Spektrofotometr do pomiaru koloru X Rite serii Ci64 do tekstyliów / tworzyw sztucznych
| Geometria optyczna: | d/8° |
|---|---|
| SCE/SCI: | SCE i SCI |
| Źródło światła UV: | TAk |
Spektrofotometr z pomiarem kraty o wysokiej dokładności do gęstości optycznej / powiększania punktów
| Geometria optyczna: | 45/0 (45 podświetlenie w kształcie pierścienia, widok pionowy) |
|---|---|
| Źródło światła: | Połączone światło LED, światło UV |
| Inny indeks kolorymetryczny: | WI (ASTM E313, CIE / ISO, AATCC, Hunter), YI (ASTM D1925, ASTM 313), TI (ASTM E313, CIE / ISO), wska |
Spektrofotometr wielokątowy Bluetooth do pomiaru kolorów w wysokiej rozdzielczości
| System oświetlenia / oglądania: | Oświetlenie 45 °: -15 ° / 15 ° / 25 ° / 45 ° / 75 ° / 110 ° kąty widzenia w technologii podwójnej śc |
|---|---|
| Źródło światła: | Biała dioda LED o wysokim CRI |
| Obszar pomiaru / oświetlenia: | Ø 6 mm / Ø 12 mm |
Geometria Przenośny spektrofotometr do pomiaru koloru z czujnikiem połysku 60 °
| System oświetlenia / oglądania: | Metoda 45 ° C: 0 ° (oświetlenie obwodowe 45 °, widok pionowy 0 °) |
|---|---|
| Połysk: | 60° |
| Obszar pomiaru / oświetlenia: | MAV: Ø8,0 mm / 12 x 16 mm SAV: Ø3,0 mm / 12 x 16 mm |