logo
Wyślij wiadomość
86--13667332386
Zapytaj Teraz
Nasze produkty
Jakość Obraz sinusoidalny YE0184 Karta testu szarości Karta skali szarości 18% X Karta balansu bieli Rite fabryka

Obraz sinusoidalny YE0184 Karta testu szarości Karta skali szarości 18% X Karta balansu bieli Rite
Jakość Tablica testowa zniekształceń szachownicy T06 Sineimage YE006 Do sprawdzania geometrii / rozdzielczości fabryka

Tablica testowa zniekształceń szachownicy T06 Sineimage YE006 Do sprawdzania geometrii / rozdzielczości
Jakość Tabela testowa rozdzielczości Silk VC-118-X Regulowana temperatura barwowa / luminancja Szafka testowa kamery fabryka

Tabela testowa rozdzielczości Silk VC-118-X Regulowana temperatura barwowa / luminancja Szafka testowa kamery
Jakość Tabela testowania rozdzielczości skali szarości 11 łatek Wysoka dokładność Silk / Sineimage YE0153 fabryka

Tabela testowania rozdzielczości skali szarości 11 łatek Wysoka dokładność Silk / Sineimage YE0153
Jakość Silk YE083 ITE Tabela testowa rozdzielczości 11 Stopniowana skala szarości dla aparatów elektronicznych fabryka

Silk YE083 ITE Tabela testowa rozdzielczości 11 Stopniowana skala szarości dla aparatów elektronicznych
Jakość Karta testu obiektywu cyfrowego aparatu o dużym zakresie dynamicznym Karta OECF 36 Karta SineImage YE0269 fabryka

Karta testu obiektywu cyfrowego aparatu o dużym zakresie dynamicznym Karta OECF 36 Karta SineImage YE0269
Jakość Modulowana sinusoidalna mapa gwiazdowa Siemens Sineimage Odbicie / Przezroczysta Kategoria YE0253 9x fabryka

Modulowana sinusoidalna mapa gwiazdowa Siemens Sineimage Odbicie / Przezroczysta Kategoria YE0253 9x
Jakość Tabela rozdzielczości aparatu cyfrowego Sineimage ISO-15739, karta testu hałasu aparatu YE0219 fabryka

Tabela rozdzielczości aparatu cyfrowego Sineimage ISO-15739, karta testu hałasu aparatu YE0219
Jakość Rozdzielczość pomiaru cieniowania Tabela testowa Biała X Rite Karta balansu bieli YE0178 fabryka

Rozdzielczość pomiaru cieniowania Tabela testowa Biała X Rite Karta balansu bieli YE0178
74 75 76 77 78